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수은과 팔라듐을 동시에 측정하기 위한 간단하고 새롭고 민감한 분광광도법이 설명되었습니다.이 방법은 pH 3.5에서 TMK(Thio-Michler's Ketone)와 수은 및 팔라듐의 복합체 형성을 기반으로 합니다.감도에 영향을 미치는 모든 요소가 최적화되었고 수은 및 팔라듐 결정을 위한 선형 동적 범위가 발견되었습니다.분광 광도법을 사용하여 수은과 팔라듐 혼합물을 동시에 측정하는 것은 스펙트럼 간섭으로 인해 어려운 문제입니다.부분 최소 제곱법(PLS)과 같은 다변량 보정 방법을 통해 보정 범위에서 사용되는 혼합물의 농도 값으로 조정된 모델을 얻을 수 있습니다.OSC(Orthogonal Signal Correction)는 제한된 주성분 분석을 기반으로 대상 변수와 관련 없는 정보를 제거하는 데 사용되는 전처리 기술입니다.OSC는 분광광도법을 사용하여 예측 능력의 손실 없이 혼합물의 PLS 보정에 적합한 전처리 방법입니다.이 연구에서 보정 모델은 수은과 팔라듐의 25가지 다른 혼합물에 대한 360-660nm 범위의 흡수 스펙트럼을 기반으로 합니다.교정 매트릭스는 각각 0.025-1.60 및 0.05-0.50 microg mL(-1)의 수은과 팔라듐을 포함했습니다.OSC가 있거나 OSC가 없는 수은과 팔라듐의 RMSEP는 각각 0.013, 0.006 및 0.048, 0.030이었습니다.이 절차를 통해 합성 및 실제 매트릭스 시료에서 수은과 팔라듐을 동시에 측정할 수 있어 측정의 신뢰성이 우수합니다.