제품

위상에 민감한 형광 방출 스펙트럼 분석을 위한 새로운 방법을 설명합니다.이 방법은 단일 변조 주파수에서 측정된 스펙트럼을 사용하여 3성분 혼합물의 분해능을 허용합니다.위상에 민감한 스펙트럼은 여러 임의의 검출기 위상 각도에서 하나의 변조 주파수를 사용하여 기록됩니다.하나의 구성 요소를 억제할 필요는 없습니다.그런 다음 스펙트럼을 사용하여 비선형 최소 자승 분석 절차를 사용하여 구성 요소 수명과 정상 상태 분수 강도를 추정합니다.분석을 위한 유일한 요구 사항은 개별 구성 요소의 정상 상태 스펙트럼에 대한 지식입니다.이 절차를 통해 9-메틸안트라센(4.5ns)과 9,10-디페닐안트라센(5.9ns)의 2성분 혼합물을 분리할 수 있었습니다.단지 30% 차이가 나는 두 수명의 분해능은 어려운 작업이라는 점에 유의해야 합니다.또한 p-bis[2-(5-phenyloxazolyl)]ben zene(1.3ns), 9-methylanthracene(4.5ns) 및 9,10-diphenylanthracene(5.9 NS).편리하게도 이 기술은 상업적으로 이용 가능한 고정 주파수 위상 형광계를 활용합니다.